“Bruker AXS” (Германия)
Порошковый дифрактометр D8 Advance diffractometer
Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда.
Назначение и технические характеристики
Порошковый дифрактометр предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда.
Основные характеристики:
-используемое излучение: CuKα;
-детектор: точечный или линейный VANTEC (захват интервала 2θ в 8°);
-типы возможных образцов: поликристаллы, керамика, таблетки, пленки, полимеры, ситаллы, стекла;
-геометрия: Брегга-Брентано,максимально возможный угловой интервал –110 < 2θ < 167;
-имеется температурная приставка Anton Paar TTK450;
-интервал температур от –160 до 450°С.